PW2605R USB过压与反接保护芯片解析:6.1V OVP+防倒灌,手表磁吸充电首选

2026-10-23 10:03:00
admin
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USB 输入反接保护芯片PW2605R · 五重防护集成方案

集成 OVP 过压保护、输入反接保护、防倒灌、输入短路保护、可调 OCP 过流保护五大功能, DFN-2x2-8L 超小封装,导通内阻仅 0.13Ω,专为智能手表、电动牙刷、情趣用品等紧凑可充电产品量身定制。

3.5~30V 宽输入电压范围

0.13Ω 超低导通内阻

6.1V 固定 OVP 阈值

2mm² DFN 极小封装

USB 输入口面临的三大风险

充电接口作为"外部世界"与内部锂电池系统直接接触的端口, 面临过压击穿、反接短路、浪涌冲击等多重风险,一颗四合一保护芯片是产品可靠性提升的必备方案。

过压击穿风险

充电头或适配器异常输出高压,如插错接口、误用 PD/QC 高压头、充电头损坏, 导致后级充电 IC、锂电池、MCU 被过压击穿,造成永久性损坏。

反接短路风险

磁吸、pogo pin 式充电接口容易因金属异物、汗液、水滴引起接口短路或正负极反接, 产生瞬间反向电流或负压,损坏电池和充电管理电路。

浪涌冲击风险

低质量充电头插拔瞬间产生大浪涌,可能瞬时拉高 VBUS 到十几 V 甚至 20V 以上, 对后级灵敏的充电 IC 和电池管理系统造成不可逆损害。

PW2605R · 五重保护集于一身

平芯微半导体推出的 USB 输入口保护芯片,五大保护功能集成于 DFN-2x2-8L 超小封装, 内部集成 NMOS 开关管,无需外接 MOS,非常适合空间有限的小型可充电产品。

小封装,大保护

PW2605R 采用 DFN-2x2-8L 封装,PCB 占用面积极小,仅需一颗小麦粒大小的面积, 完美适应磁吸式、插拔式精密产品内部布局。内部集成 NMOS 开关管,导通内阻仅 0.13Ω, 充电效率高、发热小,无需外接 MOS 管和肖特基二极管,物料 BOM 更精简。

宽输入电压 3.5V~30V,兼容 5V、PD/QC 9V/12V 充电头插入时的高压冲击; 固定 6.1V OVP 过压保护阈值,输入电压超过阈值后自动关断输出, 防止高压击穿后级充电 IC 与锂电池。

DFN-2x2-8L集成 NMOS免外部 MOS工业级温度量产供货

OVP 过压保护

固定 6.1V 阈值,超压自动关断输出

输入反接保护

VBUS-GND 反接自动断开回路

防倒灌

断开后电池不倒充至 VBUS

短路保护

防汗液水滴异物短路损害

可调 OCP 过流

外部电阻设定,最大约 2A

三大典型应用场景

专为小型可充电个人护理产品量身定制,完美适配智能手表、电动牙刷、情趣用品等空间紧凑、安全要求高的应用场景。

01 智能手表充电口保护

pogo pin、磁吸充电接口金属接点外露,汗液水滴短接、磁吸反接、金属异物接触引脚等风险频发。 PW2605R 串接于 VBUS 输入与充电 IC 之间,异常时自动关断隔离。

pogo pin磁吸充电Type-CBOM 降 40%

02 电动牙刷 USB 输入保护

潮湿环境频繁接触水滴,磁吸无线充电座 + USB 备用接口双重风险。 可与平芯微 PW4056/PW4054 锂电池充电管理 IC 搭配使用,实现全方位保护。

潮湿环境磁吸充电USB 备用口配 PW4056

03 情趣用品反接保护

敏感个人护理产品,安全要求极高。磁吸充电接点错插反接不损坏, IPX7 防水内部不允许漏电,DFN-2x2 封装完美适应精密产品内部布局。

磁吸充电IPX7 防水低发热高安全

典型应用电路与设计建议

VBUS 充电输入经芯片 VIN 引脚接入,VOUT 输出接后级充电 IC; ILIM 引脚串联外部采样电阻到地设定过流阈值;EN 引脚可由 MCU 控制或上 VIN 自启动。

1 去耦电容选型

VIN、VOUT 去耦电容建议采用 1μF/25V,保证高压浪涌下不击穿,靠近引脚放置。

2 ILIM 电阻匹配

ILIM 电阻选择需参照 datasheet 与后级锂电充电电流匹配,预留 20% 余量,确保限流准确。

3 PCB 布局建议

芯片靠近接口放置,短连接口到 VIN,避免长走线受干扰;大电流路径走宽铜,减小压降。

4 散热焊盘处理

DFN 封装底部散热焊盘需接地平面,确保温升可控,提高长期可靠性。

5 防水产品追加保护

若产品需 IPX7 防水,建议在 PW2605R 前端追加 TVS 二极管(如 PWESD-24VSSA)双重保护。








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